集成电路RFID芯片测试系统设计与实现

作     者：王卓 

作者机构：航天信息股份有限公司技术研究院北京市100195 

出 版 物：《通讯世界》 (Telecom World)

年 卷 期：2014年第20卷第8期

页      码：22-23页

摘      要：RFID测试系统的设计与实现是进一步提升RFID芯片的必然要求,在今后工作过程中对于这项工作应该保持高度重视。本文将主要探讨一种基于ISO14443A协议的非接触式集成电路芯片的功能测试系统。该系统的实现对于保证系统具有重要的意义。测试系统的设计和实现是一个专业的过程,对于这个过程必须要严格按照设计规范来操作。

主 题 词：RFID 测试系统 集成电路 ISO14443A协议 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1006-4222.2014.15.013

馆 藏 号：203874185...