SOC基于LFSR的混合模式测试

作     者：赵小康 王明湘 Zhao Xiao-kang;Wang Ming-xiang

作者机构：苏州大学电子信息学院江苏苏州215021 

出 版 物：《电子质量》 (Electronics Quality)

年 卷 期：2008年第12期

页      码：34-35,39页

摘      要：随着集成电路深亚微米制造技术和设计技术迅速发展,系统芯片(SOC)作为一种解决方案得到了越来越广泛的应用。SOC的测试中,内建自测试(*** Self-Test,BIST)成为人们研究的热点。文中对SOC的设计特点及其BIST中的混合模式测试进行了探讨。

主 题 词：SOC SOB LFSR 混合模式测试 BIST 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-0107.2008.12.012

馆 藏 号：203878954...