基于PTIDR编码的测试数据压缩算法

作     者：李国亮 冯建华 崔小乐 Li Guoliang;Feng Jianhua;Cui Xiaole

作者机构：北京大学信息科学技术学院北京100871 北京大学深圳研究生院信息工程学院深圳518055 

基　　金：国家自然科学基金(90207018 60576030) 

出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期：2008年第20卷第2期

页      码：161-166页

摘      要：为减少测试数据存储量,提出一种有效的新型测试数据压缩编码--PTIDR编码,并构建了基于该编码的压缩/解压缩方案.PTIDR编码能够取得比FDR,EFDR,Alternating FDR等编码更高的压缩率,其解码器也较简单、易实现,且能有效地降低硬件开销.与Selective Huff man,CDCR编码相比,PTIDR编码能够得到较高的压缩率面积开销比.特别地,在差分测试集中0的概率满足p≥0.7610时,PTIDR编码能取得比FDR编码更高的压缩率,从而降低芯片测试成本.

主 题 词：测试数据压缩 哈夫曼编码 FDR编码 PTIDR编码 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

馆 藏 号：203879621...