基于微指令覆盖的最小指令集测试算法

作     者：张盛兵 高德远 樊晓桠 ZHANG Sheng-Bing;GAO De-Yuan;FAN Xiao-Ya

作者机构：西北工业大学计算机科学与工程系西安710072 

基　　金："九五"预研项目!(8.1.2 .8) 航空基金项目!(97F5 3 0 5 6 ) 

出 版 物：《计算机学报》 (Chinese Journal of Computers)

年 卷 期：2000年第23卷第10期

页      码：1083-1087页

摘      要：着重讨论了如何利用微处理器中的自测试设计来缩短功能测试序列的长度 .首先 ,依据指令的表示模型 ,将指令测试分成微指令序列和微指令执行两个测试层次 ,提出了一个基于微指令覆盖的最小指令集测试算法 ,只需检测指令集的一个子集就能达到指令测试的目的 .然后 ,通过定义指令的测试代价和测试效率 ,提出了一个可以有效地选择最小测试指令集的方法 .最后 ,将算法应用于 NRS40 0 0微处理器的功能测试 ,仅为传统的全指令集测试序列的 37.7% .

主 题 词：微处理器 功能测试 微指令 最小指令集测试算法 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:0254-4164.2000.10.012

馆 藏 号：203879625...