一种32位MCU的FPGA验证平台

作     者：刘云晶 刘梦影 LIU Yunjing;LIU Mengying

作者机构：中科芯集成电路有限公司 

出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期：2020年第20卷第1期

页      码：41-47页

摘      要：随着应用的复杂化和多样化,微控制器(MCU)设计规模急剧增大,性能要求越来越高。为缩短芯片验证时间,提高验证效率,采用FPGA原型验证平台是一个有效的方法。通过建立基于FPGA的高性能原型验证系统,可及时发现芯片设计中的错误和不足,进而缩短MCU芯片研发周期。以一款通用MCU为研究对象,通过修改时钟系统,替换存储器和综合布局布线设计FPGA验证平台,并利用该平台进行软硬件协同验证,为该芯片的验证工作提供了高效有力的支撑。

主 题 词：微控制器 FPGA 原型验证 软硬件协同验证 

学科分类：0711[理学-心理学类] 07[理学] 

D　O　I：10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0111

馆 藏 号：203880314...