一种MOS管自动功率老化测试系统的设计

作     者：杨修杰 尹保来 肖鹏 刘浩峰 Yang Xiujie;Yin Baolai;Xiao Peng;Liu Haofeng

作者机构：中国测试技术研究院 

基　　金：2018年四川省科技厅半导体可靠性测试平台项目(2018TJPT0009) 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2020年第28卷第1期

页      码：41-43,60页

摘      要：通过分析MOS管结温对器件可靠性的重要性,指出现有老化方法在试验过程中未能达到最高允许结温,老化不充分的问题;提出了一种测试过程中实时测量MOS管导通电阻RDS(ON)推断结温的老化方法,使老化过程中受试器件的结温尽量控制在最高允许结温附近;介绍了自动老化测试系统的构成及工作模式,详细阐述了老化板的工作原理及老化参数标定的方法;以型号为IRFB4019的MOS管作为试验对象,对测试系统进行功能验证;试验结果表明,该老化方法试验过程受试器件结温可控,能够将结温控制在最高允许温度附近,可以更加有效地剔除存在潜在问题的器件,与现有方法相比,老化更充分。

主 题 词：可靠性 MOS管 功率老化 极限结温 导通电阻 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2020.01.010

馆 藏 号：203882329...