再入过程中的同位素热源可靠性评估

作     者：吴胜娜 罗洪义 武伟名 李鑫 唐显 WU Shengna;LUO Hongyi;WU Weiming;LI Xin;TANG Xian

作者机构：中国原子能科学研究院同位素研究所 

出 版 物：《原子能科学技术》 (Atomic Energy Science and Technology)

年 卷 期：2020年第54卷第2期

页      码：215-221页

摘      要：本文综合考虑微观组织不均匀性等材料的内在分散性,以及载荷历程、工作环境等外在分散性的影响,针对放射性同位素热源(RHU)产品结构特点,选用基于随机有限元法的应力-强度干涉模型,采用解析法与蒙特卡罗法相结合的方式,在有限的试验规模下,定量评价了某型RHU在再入过程中经历一系列环境载荷后的可靠性水平。利用本文所述方法计算得到:该型RHU在95%置信度下的可靠度置信下限为0.999989,达到了一般探测器零部件级产品的可靠性评估精度要求,这表明本文所述方法实用、可靠,在RHU的可靠性评估、指导RHU的可靠性设计、降低评估成本方面具有很高的实用价值。

主 题 词：放射性同位素热源 可靠性评估 随机有限元法 应力-强度干涉模型 蒙特卡罗法 

学科分类：07[理学] 0807[工学-电子信息类] 070104[070104] 0827[工学-食品科学与工程类] 0703[理学-化学类] 0701[理学-数学类] 0801[工学-力学类] 

核心收录：

D　O　I：10.7538/yzk.2020.54.02.0215

馆 藏 号：203882823...