一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案

作     者：吴义成 梁华国 李松坤 黄正峰 易茂祥 

作者机构：合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009 合肥工业大学电子科学与应用物理学院合肥230009 

基　　金：国家自然科学基金项目(60876028) 国家自然科学基金重点项目(60633060) 高等学校博士学科点专项科研基金项目(200803590006) 安徽省海外高层次人才项目(2008Z014) 合肥工业大学科学研究发展基金项目(2010HGXJ0071) 合肥工业大学博士学位人员专项资助基金项目(GDBJ2010-002) 安徽高校省级自然科学研究重点项目(KJ2010A280) 

出 版 物：《计算机研究与发展》 (Journal of Computer Research and Development)

年 卷 期：2010年第47卷第S1期

页      码：195-199页

摘      要：提出了一种基于选择逻辑电路实现自选择折叠计数器状态转移的BIST方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过设计的选择电路来控制折叠距离的选取,从而实现了确定的与原测试集相等的测试模式生成.方案不仅实现了测试数据的压缩,而且成功避开了冗余的无用向量,以达到减少大量的测试时间的目的.实验结果证明,建议的方案不仅具有较高的测试数据压缩率,而且能够非常有效地减少测试应用时间.

主 题 词：内建自测试 折叠计数器 自选择电路 测试数据压缩 测试时间 

学科分类：08[工学] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

馆 藏 号：203885103...