一种应用FPGA的灰度投影法断纱检测平台设计

作     者：孟立凡 高文学 MENG Lifan;GAO Wenxue

作者机构：中北大学电子测试技术国家重点实验室仪器科学与动态测试教育部重点实验室 

基　　金：国家自然科学基金(61335008) 

出 版 物：《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期：2020年第43卷第4期

页      码：4-7页

摘      要：为解决纺织过程中断纱难以及时发现的问题,设计一种基于FPGA的灰度投影算法检测平台。系统中数字CCD相机采集纺纱图像后,FPGA进行灰度投影计算、局部极值法、极值点校正等处理,得到特征值,然后通过与FPGA内部已存储的特征值阈值进行比较,判断出纱线的断纱情况。在20S,30S和40S三种典型纱线生产过程中进行实测,结果表明,所设计平台满足断纱检测的准确性和实时性需求。

主 题 词：断纱检测 灰度投影 FPGA 特征值提取 检测平台搭建 系统测试 

学科分类：11[军事学] 0810[工学-土木类] 1105[1105] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 110503[110503] 

D　O　I：10.16652/j.issn.1004⁃373x.2020.04.002

馆 藏 号：203885729...