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基于STM32金属检测和分离系统的设计与实现

基于STM32金属检测和分离系统的设计与实现

作     者:田大军 王金枝 高华婷 刘洪波 

作者机构:济南正平自动化设备有限公司 

出 版 物:《电子产品世界》 (Electronic Engineering & Product World)

年 卷 期:2020年第27卷第3期

页      码:40-42,54页

摘      要:本系统包括金属检测器、控制电路和分离系统三部分。主要原理是有1个发射线圈,2个接收线圈,发射线圈,在通电后产生1个永久的交流电磁场,2个接收线圈互相连接,在有金属经过2个金属线圈时都会产生信号变化,控制器在处理并判断该信号之后,给出金属信号。通过继电器控制输出给剔除装置,将带有金属杂质的物料清除出去,对提高食品的安全性及保护精密工业机器具有重要的意义。

主 题 词:金属检测 交流电磁场 继电器 

学科分类:08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 081102[081102] 0811[工学-水利类] 

馆 藏 号:203886096...

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