新型纳米阻抗显微镜前置放大器的设计

作     者：丁喜冬 杜贤算 张进修 Ding Xidong;Du Xiansuan;Zhang Jinxiu

作者机构：光电材料与技术国家重点实验室 中山大学物理学与工程技术学院 广州 510275 中山大学物理学与工程技术学院 

基　　金：广东省项目(01-09080-4202372 2005A10703001) 广州市攻关项目(200322-D2021 20136Z3-D2071)资助项目 

出 版 物：《仪器仪表学报》 (Chinese Journal of Scientific Instrument)

年 卷 期：2007年第28卷第1期

页      码：57-61页

摘      要：基于扫描隧道显微镜的新型纳米阻抗显微镜(STM-NIM)能够测量材料表面的纳米微区阻抗性质并具有分辨率高的突出优点,但传统STM前置放大器的频率带宽不能满足STM-NIM测量模式的要求,因而需要设计新型前置放大器。STM-NIM前置放大器必须在噪声和频率带宽两方面同时具有非常优良的性能。本文利用STM及NIM信号的特点,通过将信号一分为二并对电路进行优化,研制出了满足STM-NIM测量要求的新型前置放大器。测试表明,该前置放大器能同时用于NIM阻抗测量和STM形貌扫描;其NIM信号的频率带宽达到300 kHz;其STM信号的噪声约为0．8 mV,能满足原子级分辨成像的要求。

主 题 词：扫描隧道显微镜 纳米阻抗显微镜 前置放大器 噪声 带宽 

学科分类：080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0804[工学-材料学] 0703[理学-化学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:0254-3087.2007.01.012

馆 藏 号：203886211...