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基于多频测试和神经网络的模拟电路故障诊断

基于多频测试和神经网络的模拟电路故障诊断

作     者:王承 叶韵 梁海浪 何进 WANG Cheng;YE Yun;LIANG Hailang;HE Jin

作者机构:北京大学深港产学研基地深圳市系统芯片设计(SOC)重点实验室广东深圳518057 

基  金:国家自然科学基金重点项目(No.60936005) 深圳市杰青项目(No.JC201005280670A) 

出 版 物:《计算机工程与应用》 (Computer Engineering and Applications)

年 卷 期:2013年第49卷第5期

页      码:1-3,7页

摘      要:多频测试使模拟电路响应的故障状态和正常状态差异最大化,而神经网络具有解决复杂分类问题的能力。结合两者优点,提出一种基于多频测试和神经网络的故障诊断方法:通过灵敏度分析指导多频测试矢量生成,选择最优测试激励;提取各测试节点响应的故障信息,利用神经网络对各种状态下的特征向量进行分类决策,实现对故障元件的检测和定位。实验结果表明,该方法对模拟电路故障诊断非常有效,具有很强的实用性。

主 题 词:多频测试 神经网络 模拟电路 故障诊断 测试矢量生成 

学科分类:12[管理学] 1201[管理学-管理科学与工程类] 081104[081104] 08[工学] 0835[0835] 0811[工学-水利类] 0812[工学-测绘类] 

核心收录:

D O I:10.3778/j.issn.1002-8331.1204-0685

馆 藏 号:203888763...

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