单元互耦对自适应平面阵列性能的影响

作     者：彭宏利 张厚 刘其中 

作者机构：西安电子科技大学天线与电磁散射研究所陕西西安710071 

基　　金：国家部委预研基金资助项目 ( 0 0J10 1 2 DZ0 1) 

出 版 物：《西安电子科技大学学报》 (Journal of Xidian University)

年 卷 期：2001年第28卷第6期

页      码：764-767页

摘      要：采用混合法 矩量法和并矢格林函数法 ,着重研究了微带天线单元间的互耦对自适应平面阵列输入驻波比、波束指向、方向图的副瓣电平和零点位置的影响 ,最后通过测试对上述影响进行了验证 ,理论和实测较为一致 .结果表明 ,在移动通信中 ,基站自适应平面阵列的设计必须考虑辐射单元互耦效应 .

主 题 词：单元互耦 矩量法 并矢格林函数法 自适应平面阵列 移动通信天线 

学科分类：080904[080904] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-2400.2001.06.017

馆 藏 号：203889461...