基于扫描链的可编程片上调试系统

作     者：陈华军 娄卓阳 王焕东 刘慧 王琳 Chen Huajun;Lou Zhuoyang;Wang Huandong;Liu Hui;Wang Lin

作者机构：计算机体系结构国家重点实验室(中国科学院计算技术研究所)北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院大学北京100049 龙芯中科技术有限公司北京100190 

基　　金：国家"核高基"科技重大专项课题(2009ZX01028-002-003 2009ZX01029-001-003 2010ZX01036-001-002 2012ZX01029-001-002-002 2014ZX01020201) 国家自然科学基金(61221062 61133004 61173001 61232009 61222204 61432016) 863计划(2012AA010901 2012AA011002 2012AA012202 2013AA014301)资助项目 

出 版 物：《高技术通讯》 (Chinese High Technology Letters)

年 卷 期：2015年第25卷第6期

页      码：584-592页

摘      要：研究了用于检验硅后芯片的硅后调试技术,考虑到现有的硅后调试技术缺乏实时监测芯片内部运行状态的能力,导致故障诊断的结果很不准确,提出一种基于扫描链的新的可编程片上调试系统。该系统充分利用芯片的片上传输总线,通过添加极少的硬件电路,使芯片能够实时监测自身的运行状态,并在满足程序设定的条件后,自动触发故障诊断模式。该系统充分利用芯片内建扫描链,通过控制扫描链实现对芯片内部状态精确配置和观测。此外,该系统通过片上时钟电路对调试时钟进行精确控制,保证各模式时钟切换的正确性,同时还支持实速测试,为时序分析和调试提供新途径。该系统已在最新一款龙芯高性能通用处理器芯片上得到成功应用。

主 题 词：硅后调试 片上调试系统 可编程 可调试性设计 故障诊断 实速测试 

学科分类：080903[080903] 0810[工学-土木类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0805[工学-能源动力学] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3772/j.issn.1002-0470.2015.06.006

馆 藏 号：203890010...