全捷联导引头寄生回路影响与辨识校正

作     者：李富贵 夏群利 祁载康 孙静 LI Fu-gui;XIA Qun-li;QI Zai-kang;SUN Jing

作者机构：北京理工大学宇航学院北京100081 中国兵器工业科学研究院北京100089 

基　　金：中国博士后科学基金(2011M500008)资助课题 

出 版 物：《系统工程与电子技术》 (Systems Engineering and Electronics)

年 卷 期：2013年第35卷第8期

页      码：1717-1722页

摘      要：为研究隔离度寄生回路对全捷联导引头的影响,建立了全捷联制导模型,基于此模型通过无量纲变换获得了无量纲动力学模型,采用劳斯判据和系数冻结法研究了剩余飞行时间、制导参数、刻度尺偏差对制导稳定性的影响,利用伴随函数法研究了刻度尺偏差对脱靶量的影响。基于辨识理论提出了全捷联导引头刻度尺偏差的辨识方法。研究表明,刻度尺偏差会恶化全捷联制导系统稳定性,增加需用末导时间,利用辨识方法可准确辨识出导引头刻度尺偏差予以补偿。研究结论可为全捷联制导设计提供参考和帮助。

主 题 词：全捷联导引头 隔离度寄生回路 刻度尺偏差 辨识方法 

学科分类：0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081105[081105] 0804[工学-材料学] 0802[工学-机械学] 0811[工学-水利类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-506X.2013.08.22

馆 藏 号：203896301...