自动测试设备的成本及方案分析

作     者：Mark Underwood Jay Scolio 

作者机构：Maxim集成产品公司 

出 版 物：《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期：2001年第26卷第9期

页      码：69-72页

摘      要：电子设备的测试方法多种多样，从最简单的手工测试到最为复杂的大规模自动测试设备（ＡＴＥ）。本文重点讨论一种具有较高性价比的中等规模测试方案。

主 题 词：自动测试设备 接口 系统设计 

学科分类：08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 

D　O　I：10.13290/j.cnki.bdtjs.2001.09.019

馆 藏 号：203904767...