基于C#的可配置一键式频综测试平台的设计

作     者：李仪 王兆麒 李效军 

作者机构：西南电子设备研究所四川成都610036 

出 版 物：《科技风》 (Technology Wind)

年 卷 期：2020年第13期

页      码：125-125页

摘      要：为了解决频综模块测试环境开发慢、测试效率低的问题,本文基于C#设计了一种可配置的、支持一键测试的频综模块自动测试平台。该平台采用模块化设计,具备XML测试参数配置接口、测试方法库、硬件驱动库、报表生成模块以及友好的UI界面。经对比测试可证明该测试平台能正确可靠的对频综模块进行测试,同时有效提高制造效率。

主 题 词：C# 可配置 频综 自动测试 

学科分类：08[工学] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.19392/j.cnki.1671-7341.202013105

馆 藏 号：203909400...