宽禁带半导体器件环境适应性验证技术

作     者：汪邦金 朱华顺 关宏山 WANG Bang-jin;ZHU Hua-shun;GUAN Hong-shan

作者机构：中国电子科技集团公司第三十八研究所安徽合肥230088 

基　　金：核心电子器件 高端通用芯片 基础软件产品科技重大专项资金(No.2009ZX01025-001) 

出 版 物：《雷达科学与技术》 (Radar Science and Technology)

年 卷 期：2011年第9卷第5期

页      码：469-473,478页

摘      要：应用验证是新型元器件走向实际工程应用必不可少的关键环节。从实际工程应用角度出发,给出了宽禁带半导体(SiC/GaN等)微波功率器件环境适应性验证过程中的验证分级(解决及时发现问题与验证周期、费用矛盾)、验证载体与工程应用统一性设计(器件研制源于工程、用于工程)、验证数据的可对比性设计(验证环节可追溯)方法及相关分析(指导工程设计),为宽禁带半导体微波功率器件的工程化研制提供数据支撑。文中的试验数据和设计思想可作为其他相关工程设计参考。

主 题 词：宽禁带半导体 验证技术 环境适应性 半导体器件 微波功率器件 工程设计 验证过程 相关分析 

学科分类：080904[080904] 0810[工学-土木类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081105[081105] 081001[081001] 081002[081002] 0825[工学-环境科学与工程类] 0811[工学-水利类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-2337.2011.05.017

馆 藏 号：203910647...