机载电子设备通用自动测试系统研究与实现

作     者：刘世军 杨瑞青 LIU Shijun;YANG Ruiqing

作者机构：中国电子科技集团公司第二十七研究所河南郑州450015 

出 版 物：《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期：2009年第32卷第6期

页      码：178-181,185页

摘      要：自动测试系统作为军事装备中的重要组成部分,可大大降低武器系统的维护时间。科学技术的发展和军方的需求,促使了通用综合测试系统的产生和广泛应用。机载电子设备通用自动测试系统是一套开放的、可扩展测试系统。通用性实现的关键是系统硬件结构标准化、软件结构及软件基础构件标准化、测试程序编程语言标准化。结合机载电子设备的应用背景,给出了通用自动测试系统硬件平台、软件平台设计与实现,对设计出的通用测试系统进行了试验,经分析可以满足通用性设计要求。

主 题 词：机载电子设备 通用自动测试系统 仪器驱动程序 测试程序 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 

D　O　I：10.16652/j.issn.1004-373x.2009.06.054

馆 藏 号：203911560...