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近红外光谱学(上)——用近红外辐射观察红外景物

近红外光谱学(上)——用近红外辐射观察红外景物

作     者:尾崎幸洋 江涛 

作者机构:日本关西学院大学理学部 

出 版 物:《红外》 (Infrared)

年 卷 期:1998年第19卷第12期

页      码:9-15页

摘      要:红外元件公司(ICC)是从事极低温(77K)封装和开发、生产精密部品的公司。该公司从事红外系统用极低温集成探测器(HgCdTe、InSb、PtSi等)组件的开发已有10多年的历史,除批量生产杜瓦瓶/致冷器/探测器,并进行OEM设计和制造外,也从事红外焦平面列阵(FPA)、半导体器件、X线探测器。

主 题 词:近红外辐射 近红外光谱学 红外景物观察 

学科分类:070207[070207] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-仪器类] 0702[理学-物理学类] 

馆 藏 号:203918126...

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