基于光电耦合的耐压绝缘测试系统设计

作     者：常莉丽 路翀 可晓海 古丽江 CHANG Li-li;LU Chong;KE Xiao-hai;GU Li-jiang

作者机构：伊犁师范学院电子与信息工程学院新疆伊宁835000 

基　　金：新疆自然科学基金资助项目(2009211A10) 伊犁师范学院项目(2011YLYB38) 

出 版 物：《电子设计工程》 (Electronic Design Engineering)

年 卷 期：2014年第22卷第4期

页      码：15-18,22页

摘      要：应用集成光电耦合器TLP521-4,设计了一种基于光电耦合的耐压绝缘测试系统,详细说明了光电耦合隔离的耐压绝缘测试系统的设计思路和硬件电路结构。这种基于光电耦合的耐压绝缘测试系统具有抗电磁干扰强、成本低廉的优点,能极大提高测试系统的工作稳定性。

主 题 词：耐压绝缘测试 光电耦合 TLP521 单片机 

学科分类：080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 0803[工学-仪器类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-6236.2014.04.005

馆 藏 号：203919953...