基于伴随粒子的快中子成像系统角分辨研究

作     者：孙世峰 欧阳晓平 SUN Shifeng;OUYANG Xiaoping

作者机构：华北电力大学核科学与工程学院北京102206 华北电力大学非能动核能安全技术北京市重点实验室北京102206 西北核技术研究院强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室陕西西安710024 

基　　金：中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(2017MS040) 国家自然科学基金资助项目(11805066) 

出 版 物：《原子能科学技术》 (Atomic Energy Science and Technology)

年 卷 期：2020年第54卷第5期

页      码：850-856页

摘      要：不同于传统的快中子成像系统,采用伴随粒子成像技术无需机械准直即可消除大部分γ射线和散射中子的干扰,实现对厚重物体的高对比度成像。角分辨是影响系统成像质量的一项重要参数。通过理论分析,研究了入射离子的初始动量、靶点尺寸和探测器空间分辨等多个因素对系统角分辨的影响。利用基于GEANT4的模拟程序,计算了不同参数下被标记中子出射角分布的二维图像。分析及模拟结果表明,靶点直径和α探测器空间分辨率是影响角分辨的重要因素。为满足系统角分辨小于1°的设计目标,入射离子的初始动量变化范围应较小,靶点直径应小于1 mm,同时α探测器的空间分辨率应小于0.5 mm。

主 题 词：伴随粒子 角分辨 快中子成像 α探测器 

学科分类：082704[082704] 08[工学] 0807[工学-电子信息类] 0827[工学-食品科学与工程类] 0703[理学-化学类] 0801[工学-力学类] 

核心收录：

D　O　I：10.7538/yzk.2019.youxian.0520

馆 藏 号：203922987...