基于公式递推法的可变计算位宽的循环冗余校验设计与实现

作     者：陈容 陈岚 WAHLA Arfan Haider CHEN Rong;CHEN Lan;WAHLA Arfan Haider

作者机构：中国科学院微电子研究所北京100029 中国科学院大学北京100049 三维及纳米集成电路设计自动化技术北京市重点实验室北京100029 

基　　金：国家科技重大专项(2018ZX03001006-002) 

出 版 物：《电子与信息学报》 (Journal of Electronics & Information Technology)

年 卷 期：2020年第42卷第5期

页      码：1261-1267页

摘      要：循环冗余校验(CRC)与信道编码的级联使用,可以有效改善译码的收敛特性。在新一代无线通信系统,如5G中,码长和码率都具有多样性。为了提高编译码分段长度可变的级联系统的译码效率,该文提出一种可变计算位宽的CRC并行算法。该算法在现有固定位宽并行算法的基础上,合并公式递推法中反馈数据与输入数据的并行计算,实现了一种高并行度的CRC校验架构,并且支持可变位宽的CRC计算。与现有的并行算法相比,合并算法节省了电路资源的开销,在位宽固定时,资源节约效果明显,同时在反馈时延上也有将近50%的优化;在位宽可变时,电路资源的使用情况也有相应的优化。

主 题 词：循环冗余校验 并行算法 公式递推法 

学科分类：0711[理学-心理学类] 07[理学] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 

核心收录：

D　O　I：10.11999/JEIT190503

馆 藏 号：203923676...