用VIS验证微处理器PIC

作     者：杜慧敏 刘建元 韩俊刚 高德远 DU Hui-Min;LIU Jian-Yuan;HAN Jun-Gang;GAO De-Yuan

作者机构：西安邮电学院ASIC中心西安710061 

基　　金：国家自然科学基金!( 69473 0 17) 

出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期：2000年第12卷第5期

页      码：390-395页

摘      要：近年来 ,二叉判定图 BDD(Binary Decision Diagram )和符号模型检验在形式化验证数字电路设计中取得了突破性进展 .文中介绍了符号模型检验的基本原理和方法 ,重点介绍如何用 VIS系统验证微处理器 PIC设计的正确性 .利用 VIS证明了 PIC设计部分电路的等价性 ,发现了一个设计错误并证明了 PIC中一些重要模块的特性 .

主 题 词：微处理器 检验 VIS 二叉决策图 PIC 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1003-9775.2000.05.016

馆 藏 号：203925717...