并发试验环境下的设备排程研究

作     者：刘清华 高开林 熊体凡 万立 LIU Qing-hua;GAO Kai-lin;XIONG Ti-fan;WAN Li

作者机构：华中科技大学国家CAD支撑软件工程技术研究中心湖北武汉430074 

基　　金：国家863高技术研究发展计划基金项目(2007AA040603) 

出 版 物：《计算机工程与设计》 (Computer Engineering and Design)

年 卷 期：2011年第32卷第4期

页      码：1478-1483页

摘      要：为了解决并发多产品试验下多设备申请冲突和闲置问题,提高设备利用率和试验效率,提出了一种基于并发多产品试验约束的试验设备排程模型。分析了产品试验可分阶段离散实施特性,着重分析了并发试验的各约束条件及可遵循的规则。通过分析试验中多试验设备并发使用特性和试验设备使用约束,给出了试验设备选择规则及多设备公有时间搜索规则。在此基础上以多试验完成时间最短和设备利用率最高为优化目标建立了试验设备排程模型。应用结果表明了该模型的有效性。

主 题 词：并发 产品试验 试验设备 排程 模型 

学科分类：081203[081203] 08[工学] 0835[0835] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.16208/j.issn1000-7024.2011.04.004

馆 藏 号：203926504...