NIDays 2012全球图形化设计盛会中国站在北京召开

作     者：刘璇 

作者机构：国外电子测量技术 

出 版 物：《国外电子测量技术》 (Foreign Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：2012年第31卷第11期

页      码：1-1,4页

摘      要：美国国家仪器公司（以下简称为＂NI公司＂）一年一度的NIDays全球图形化设计盛会中国站于2012年11月16日在北京召开。此次NIDays时隔四年后重返北京举办,吸引了近千名工程师参加。NI东亚地区副总裁Ajit Gokhale先生作了题为＂面向二十一世纪的系统级设计＂的精彩主题演讲。会场设置了近50个应用展示。

主 题 词：NIDays 图形化设计 北京 中国 美国国家仪器公司 系统级设计 NI公司 东亚地区 

学科分类：08[工学] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-8978.2012.11.001

馆 藏 号：203934777...