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航空低温温度对自准直检焦系统的影响

航空低温温度对自准直检焦系统的影响

作     者:刘伟毅 徐钰蕾 石磊 姚园 LIU Wei-yi;XU Yu-lei;SHI Lei;YAO Yuan

作者机构:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所航空成像与测量重点实验室吉林长春130033 

基  金:国家重点研发计划资助项目(No.2017YFC0822403) 国家自然科学基金青年基金资助项目(No.51705496) 

出 版 物:《光学精密工程》 (Optics and Precision Engineering)

年 卷 期:2020年第28卷第6期

页      码:1226-1235页

摘      要:为了研究航空低温温度对自准直检焦系统的影响,从而指导实际检焦系统的设计及修正,本文根据自准直检焦及几何光学原理,分析了单点成像、条纹成像及有无像散条件下,成像位置、成像宽度与接收的光强度差之间的相互关系,并给出了相关理论公式。结合实际的相机工况,对光学系统进行了相应的仿真,仿真结果显示,仿真双波峰电压值为1.4 V和0.47 V,与实际的检焦双波峰电压值1.38 V和0.56 V基本一致。根据结果进行了温控和柔性支撑,从而使检焦正常,提高了自准直检焦系统的温度适应性。本研究对系统的温度适应性具有指导作用。

主 题 词:航空相机 自准直检焦 低温环境 单点成像 条纹成像 

学科分类:08[工学] 0825[工学-环境科学与工程类] 

核心收录:

D O I:10.3788/OPE.20202806.1226

馆 藏 号:203938511...

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