芯片验证分析及测试流程优化技术

作     者：韩银和 李晓维 罗飞茵 林建京 陈宇川 朱小荣 Han Yinhe;Li Xiaowei;Luo Feiyin;Lin Jianjing;Chen Yuchuan;Zhu Xiaorong

作者机构：中国科学院计算技术研究所信息网络室 北京市微电子技术研究所北京100076 泰瑞达(上海)有限公司上海201206 

基　　金：国家自然科学基金(90207002) 北京市重点科技项目(H020120120130) 

出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期：2005年第17卷第10期

页      码：2227-2231页

摘      要：分析了不同测试项目对于一款采用0.18μm工艺流片的高性能通用处理器芯片失效的发现能力.以失效分析的数据作为基本数据结构,提出了测试项目有效性和测试项目耗费时间的折中作为启发式信息的优化算法,利用该算法生成的测试流程可以减少失效芯片的测试时间.该算法和动态规划算法相比,计算复杂度从O(dn2n)降低到O(dn3).最后用实验数据证明了该算法的有效性.

主 题 词：失效分析 实速测试 动态规划算法 启发式搜索算法 

学科分类：08[工学] 080402[080402] 0804[工学-材料学] 0835[0835] 0811[工学-水利类] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1003-9775.2005.10.015

馆 藏 号：203941047...