多电压与扫描链技术在芯片设计中的应用研究

作     者：向韬鑫 王仁平 刘东明 陈荣林 Xiang Taoxin;Wang Renping;Liu Dongming;Chen Ronglin

作者机构：福州大学物理与信息工程学院福州350108 

出 版 物：《电气技术》 (Electrical Engineering)

年 卷 期：2020年第21卷第6期

页      码：35-38页

摘      要：本文针对芯片中功耗高、测试成本较高的问题进行分析与研究,以一款乘加器为例,该乘加器可以切换在乘、加、乘加3种工作状态。在芯片设计过程中,利用统一标准格式技术实现多电压设计达到低功耗的效果,利用扫描链技术,完成可测试性设计,降低芯片的测试成本,并解决了两种技术的兼容性问题。

主 题 词：低功耗 扫描链 多电压 物理设计 统一标准格式 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203944425...