工业CT图像的伪影成因和校正方法综述

作     者：谷建伟 张丽 陈志强 邢宇翔 高河伟 GU Jian-wei;ZHANG Li;CHEN Zhi-qiang;XING Yu-xiang;GAO He-wei

作者机构：清华大学工程物理系北京100084 

出 版 物：《CT理论与应用研究（中英文）》 (Computerized Tomography Theory and Applications)

年 卷 期：2005年第14卷第3期

页      码：24-28页

摘      要：X射线CT在工业无损检测、医学、安检等领域发挥着重要的作用。但在实际检测中,CT系统重建的图像存在各种伪影。本文从CT的系统整体设计、X射线管和探测器等角度综述了影响伪影形成的各种因素,并对每种伪影的成因作了归纳;针对这些伪影,跟踪近些年文献中主要的校正方法作了介绍,并对这些校正方法作了比较、讨论和小结。

主 题 词：工业CT 无损检测 图像 伪影校正 

学科分类：1305[艺术学-设计学类] 13[艺术学] 08[工学] 081104[081104] 0804[工学-材料学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1004-4140.2005.03.005

馆 藏 号：203947236...