SDRAM控制器设计及信号测试

作     者：黎俊 LI Jun

作者机构：武汉科技大学信息科学与工程学院湖北武汉430081 

出 版 物：《武汉科技大学学报》 (Journal of Wuhan University of Science and Technology)

年 卷 期：2006年第29卷第6期

页      码：596-598页

摘      要：分析了同步动态随机存储器的特点和控制原理,实现了一种基于现场可编程门阵列的SDRAM控制器的设计方案,给出了一种利用嵌入式逻辑分析仪S ignalTap II分析测试SDRAM信号的方法。

主 题 词：SDRAM控制器 现场可编程门阵列(FPGA) SignalTap Ⅱ 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-3644.2006.06.018

馆 藏 号：203947578...