USB总线技术在大容量存储测试系统中的应用

作     者：崔亮飞 CUI Liang-fei

作者机构：中北大学光电厂山西太原030051 

出 版 物：《仪表技术》 (Instrumentation Technology)

年 卷 期：2010年第11期

页      码：62-64页

摘      要：文章针对大容量存储测试系统具体设计了USB接口电路,对应其1G的存储容量,采用了高速的通用可编程接口(GPIF)。围绕着GPIF和外围设备的通信做了硬件设计,重点讨论了外围设备的控制逻辑时序。

主 题 词：通用串行总线 大容量存储测试 通用可编程接口 

学科分类：081203[081203] 08[工学] 0835[0835] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1006-2394.2010.11.021

馆 藏 号：203949058...