先进光谱椭偏测量技术及其在OLED中的应用

作     者：谷洪刚 柯贤华 丁可 赵雪楠 李先杰 刘世元 GU Honggang;KE Xianhua;DING Ke;ZHAO Xuenan;LI Xianjie;LIU Shiyuan

作者机构：华中科技大学机械科学与工程学院武汉430074 武汉华星光电半导体显示技术有限公司武汉430078 武汉颐光科技有限公司武汉430075 

基　　金：国家自然科学基金项目(51727809,51805193,51525502) 中国博士后基金项目(2016M602288)资助 

出 版 物：《微纳电子与智能制造》 (Micro/nano Electronics and Intelligent Manufacturing)

年 卷 期：2020年第2卷第2期

页      码：41-62页

摘      要：阐述光谱椭偏测量技术基本原理和椭偏测量数据分析方法,发展宽光谱穆勒矩阵椭偏仪等先进光谱椭偏测量技术和仪器。利用光谱椭偏测量技术精确标定典型OLED(organic light-emitting diode)材料基础光学数据,分析揭示有机材料分子取向及其导致的光学各向异性。构建复杂叠层有机发光器件光学计算模型,模拟分析其关键性能参数,提出光学协同优化设计方法,指导高性能OLED器件设计。结果和讨论展示了光谱椭偏技术在OLED材料与器件表征以及高性能OLED器件设计中的应用。

主 题 词：光谱椭偏 有机发光二极管 纳米薄膜测量 光学常数表征 分子取向 光学各向异性 光学模拟 协同优化设计 

学科分类：08[工学] 0803[工学-仪器类] 

D　O　I：10.19816/j.cnki.10-1594/tn.2020.02.041

馆 藏 号：203953766...