模块内聚性的度量方法

作     者：弓惠生 

作者机构：中国科学院软件研究所 

基　　金：国家自然科学基金 

出 版 物：《计算机研究与发展》 (Journal of Computer Research and Development)

年 卷 期：1997年第34卷第8期

页      码：571-576页

摘      要：本文依据Ｗｅｉｓｅｒ分片方法和控制流图的分解，得到以图元为元素的程序片（图片），由此得出判别低内聚模块的规则．在定义了粘图元及超粘图元以后给出了ＳＦＣ，ＷＦＣ，Ａ三种内聚度量．

主 题 词：度量 模块内聚性 程序片 程度设计 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

馆 藏 号：203963253...