电弧闪络危害计算方法研究

作     者：方景辉 丁一岷 孙一凡 高希骏 魏玲 Fang Jinghui;Ding Yimin;Sun Yifan;Gao Xijun;Wei Ling

作者机构：嘉兴恒创电力设计研究院浙江嘉兴314033 国网嘉兴供电公司浙江嘉兴314033 北京智中能源科技发展有限公司北京100176 

出 版 物：《电气技术》 (Electrical Engineering)

年 卷 期：2020年第21卷第8期

页      码：52-57页

摘      要：本文首先通过研究电弧闪络的危害及其计算方法,归纳了3种算法的区别和适用条件;然后根据Lee氏模型和电弧闪络的机理对算法进行了验证,指出了算法潜在的漏洞,并据此提出了一套考虑算法综合选取的危害计算流程;最后,本文依照此计算流程,结合具体的算例对电气设备中电弧闪络的危害性进行评估,验证了危害计算流程的可行性。

主 题 词：弧闪危害 电弧电流 事故能量 弧闪保护边界 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

馆 藏 号：203965541...