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基于PXI总线技术的测试设备研究

基于PXI总线技术的测试设备研究

作     者:李乐强 李宁 LI Leqiang;LI Ning

作者机构:西安东风仪表厂 西安710065 

出 版 物:《舰船电子工程》 (Ship Electronic Engineering)

年 卷 期:2014年第34卷第1期

页      码:16-17,62页

摘      要:为测试某电子系统发射机相关性能参数,设计了基于PXI总线的发射机测试系统。论文阐述了测试系统的软硬件设计和关键技术,并对发射机进行了测试试验,测试结果表明该系统能快速可靠地测试发射机的电性能参数,对后续研发测试设备有一定的指导意义。

主 题 词:电子系统 PXI总线 测试系统 软硬件设计 

学科分类:081203[081203] 08[工学] 0835[0835] 0812[工学-测绘类] 

D O I:10.3969/j.issn1672-9730.2014.01.005

馆 藏 号:203965917...

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