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一种用于线粒体受激辐射损耗超分辨成像的新型探针

一种用于线粒体受激辐射损耗超分辨成像的新型探针

作     者:张佳 Samanta Soham 王佳林 王璐玮 杨志刚 严伟 屈军乐 Zhang Jia;Samanta Soham;Wang Jia-Lin;Wang Lu-Wei;Yang Zhi-Gang;Yan Wei;Qu Jun-Le

作者机构:深圳大学物理与光电工程学院光电子器件与系统教育部/广东省重点实验室深圳518060 

基  金:国家重点基础研究发展计划(批准号:2017YFA0700500) 国家自然科学基金(批准号:61975127,61525503,81727804) 广东省高等学校科技创新项目(批准号:2016KCXTD007) 广东省自然科学基金(批准号:2020A1515010679) 深圳市基础研究项目(批准号:JCYJ2018030512304883,JCYJ20170818100153423,JCYJ20170412105003520)资助的课题 

出 版 物:《物理学报》 (Acta Physica Sinica)

年 卷 期:2020年第69卷第16期

页      码:304-312页

摘      要:受激辐射损耗(stimulated emission depletion,STED)显微技术通过巧妙的光学设计,利用纯光学的方法突破了光学衍射极限,空间分辨率达到纳米量级,并保留了荧光显微的许多优点.然而,高的损耗光强度限制了STED显微技术的广泛应用,尤其在活细胞成像方面.本文找到了一种新型的具有良好线粒体靶向性的STED探针,具有较强的抗光漂白特性和较低的饱和擦除光强度3.5 mW(1.1 MW·cm–2),利用该探针最高可获得62 nm的空间分辨率,为活细胞线粒体STED超分辨成像提供了新的手段.

主 题 词:受激辐射损耗显微 超分辨成像 荧光探针 线粒体 活细胞成像 

学科分类:081704[081704] 1001[医学-基础医学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-轻工类] 070302[070302] 0703[理学-化学类] 10[医学] 

核心收录:

D O I:10.7498/aps.69.20200171

馆 藏 号:203968375...

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