一种移动终端中提高卡接口可靠性的策略

作     者：童向杰 谢凤玲 TONG Xiangjie;XIE Fengling

作者机构：中兴通讯股份有限公司江苏南京210012 

出 版 物：《电子器件》 (Chinese Journal of Electron Devices)

年 卷 期：2020年第43卷第4期

页      码：922-927页

摘      要：几乎所有的移动终端都会带有卡接口,常用的有SIM卡和T卡(Micro SD卡),用以存储网络参数和用户数据,如果设计中没有充分考虑,卡接口设计的可靠性,一旦出现烧卡问题,就会使得终端散失通讯功能或者用户数据的彻底丢失,因此,此类故障对用户来说,是致命的。本文详细论述了一种由于新卡接口(SIM和T卡三选二卡座)的引入,带来的低概率可靠性问题,经过反复实验与分析,发现传统的时序设计,没有考虑到用户在新卡接口日常操作场景,从而导致潜在的可靠性风险。最终,通过优化时序,解决了该问题,由此可见,工程师在进行产品开发中,需要引入场景化设计思维。

主 题 词：SIM卡 T卡 卡接口 时序 可靠性 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-9490.2020.04.041

馆 藏 号：203969092...