探测角度对笔束X射线荧光CT成像质量的影响

作     者：马致臻 蒋上海 罗彬彬 石胜辉 邹雪 汤斌 吴德操 赵明富 Ma Zhizhen;Jiang Shanghai;Luo Binbin;Shi Shenghui;Zou Xue;Tang Bin;Wu Decao;Zhao Mingfu

作者机构：重庆理工大学光纤传感与光电检测重庆市重点实验室重庆400054 重庆理工大学智能光纤感知技术重庆市高校工程研究中心重庆400054 

基　　金：重庆市科委基础研究与前沿探索项目(cstc2019jcyj-msxmX0093) 重庆市教育委员会科学技术研究项目(KJQN201901124) 重庆理工大学科研启动基金(2017ZD28) 重庆理工大学研究生创新基金(ycx20192054,ycx20192056) 

出 版 物：《激光与光电子学进展》 (Laser & Optoelectronics Progress)

年 卷 期：2020年第57卷第16期

页      码：284-290页

摘      要：常规X射线荧光计算机断层扫描(XFCT)成像中,探测角度与荧光收集效率密切相关。基于MCNP5设计了多探测角度下笔束XFCT成像系统,对质量浓度为1%的金纳米溶液柱形模体进行成像仿真,并采用滤波反投影(FBP)算法、联合代数重建(SART)算法和最大似然模型期望最大化(ML-EM)算法重建元素分布。通过对比度噪声比定量分析不同角度下不同算法重建图像的效果,研究探测角度对成像质量的影响。结果表明,FBP算法在背向散射角度下有较好的成像质量,SART算法和ML-EM算法在垂直角度和背向散射角度均有较好的成像质量。

主 题 词：X射线荧光计算机断层扫描 散射噪声 探测角度 位置优化 对比度噪声比 

学科分类：081203[081203] 08[工学] 0835[0835] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3788/LOP57.161103

馆 藏 号：203974432...