基于CPLD的测试系统接口设计

作     者：高相铭 李国伟 GAO Xiangming;LI Guowei

作者机构：安彩集团河南省安阳市455000 

出 版 物：《电子工程师》 (Electronic Engineer)

年 卷 期：2007年第33卷第6期

页      码：19-21,33页

摘      要：介绍了一种用CPLD(复杂可编程逻辑器件)作为核心控制电路的测试系统接口,通过对CPLD和TTL电路的比较及CPLD在系统中实现的强大功能,论述了CPLD在测试系统接口中应用的可行性和优越性,简单介绍了VHDL在CPLD设计中的应用。实验证明用CPLD实现的电路具有集成度高、灵活性强、可靠性高、易于升级和扩展等特点。给出了主要电路图和时序仿真图。

主 题 词：CPLD 测试系统接口 VHDL 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-4888.2007.06.006

馆 藏 号：203978391...