一种提取多层印制电路微波过渡特性的方法
作者机构：中国电子科技集团公司第二十九研究所成都610036 四川省宽带微波电路高密度集成工程研究中心成都610036
出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)
年 卷 期：2020年第20卷第9期
页 码：38-41页
摘 要：针对多层电路过渡结构的微波性能参数提取问题,提出了一种逐步增加过渡结构的设计方法。该方法建立了多个通道间插入损耗的数学关系,通过对插入损耗的测试值进行运算处理,得到各过渡结构的微波特性参数。最后用该方法提取了一种多层电路过渡结构的微波性能参数,包括垂直过渡损耗、水平过渡损耗、直角过渡损耗、单位长度传输线损耗。提取结果可为使用该叠层结构的微波电路设计提供参考。
主 题 词：微波技术 多层印制电路板 微波过渡结构 过渡参数提取
学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学]
D O I：10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0911
馆 藏 号：203979175...
