基于IEEE P1500芯核测试控制结构设计

作     者：潘鹏程 蔡承宇 PAN Peng Cheng;CAI Cheng Yu

作者机构：温州医学院浙江温州325035 浙江工贸职业技术学院浙江温州325000 

出 版 物：《电子技术应用》 (Application of Electronic Technique)

年 卷 期：2009年第35卷第8期

页      码：100-103页

摘      要：讨论了IEEE P1500测试架构,详细分析并实现了IP核的测试环(Wrapper)结构,给出了一种支持该标准的芯片级测试控制结构。该结构能控制基于总线结构的TAM以及P1500 Wrapper,通过芯片级CTAP控制器,支持串行或并行测试访问,实现了核内测试以及核间互连测试。同时该结构只需5根额外测试管脚。

主 题 词：片上系统 测试环 测试访问机制 IP核 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16157/j.issn.0258-7998.2009.08.013

馆 藏 号：203986450...