响应曲面法优化GH3535平板样片中FLiNaK熔盐去污工艺条件

作     者：王帅 秦强 李世斌 张晗 王保柱 刘忠英 刘呈则 LIU Zhong-ying;LIU Cheng-ze

作者机构：中国科学院上海应用物理研究所核与辐射安全技术部上海201800 

基　　金：上海市青年科技英才杨帆计划(Y931011031) 国家自然科学基金资助项目(21507143) 中国科学院战略性先导科技专项资助项目(XDA02050000) 

出 版 物：《核化学与放射化学》 (Journal of Nuclear and Radiochemistry)

年 卷 期：2020年第42卷第5期

页      码：349-354,I0003页

摘      要：为了获得超声波和化学法联合去污LiF-NaF-KF(FLiNaK)熔盐的最佳工艺条件,利用响应曲面法和Box-Behnken设计(BBD)建立多项式模型,考察了反应温度、超声波功率、硝酸铝浓度和反应时间等因素对熔盐去除率的影响。结果显示:模型的相关系数r^2为0.9580,校正的相关系数radj^2为0.9159,表明模型的回归性显著,拟合程度高。影响熔盐去除率的因素由高到低为:反应时间>超声波功率>反应温度>硝酸铝浓度。预测的最佳去污工艺条件为:反应温度60℃、超声波功率300 W、硝酸铝浓度0.1 mol/L和反应时间9 min。在此条件下开展的去污实验验证熔盐的去除率为98.74%±1.12%(n=3),与预测值99.99%的相对误差为1.25%。表明采用响应曲面法优化超声波和化学法联合去污FLiNaK熔盐的工艺条件合理,结果可靠,可为下一步工程应用提供参考。

主 题 词：响应曲面法 Box-Behnken设计 超声波和化学法联合 FLiNaK熔盐 去污 

学科分类：082704[082704] 08[工学] 0827[工学-食品科学与工程类] 

核心收录：

D　O　I：10.7538/hhx.2020.YX.2019059

馆 藏 号：203986697...