微系统产品宇航应用可靠性保证关键技术

作     者：朱恒静 张延伟 张伟 祝名 ZHU Hengjing;ZHANG Yanwei;ZHANG Wei;ZHU Ming

作者机构：中国航天宇航元器件工程中心北京100094 

出 版 物：《电子产品可靠性与环境试验》 (Electronic Product Reliability and Environmental Testing)

年 卷 期：2020年第38卷第5期

页      码：7-10页

摘      要：对国内外微系统产品技术的发展趋势和微系统产品宇航应用需求进行了分析,结合微系统产品的结构和工艺特点,提出了针对系统设计评价、特性表征、研制过程保证、抗辐射保证和测试验证等方面开展微系统产品可靠性保证的方法,并对保证过程中的关键技术进行了详细的阐述。

主 题 词：微系统 发展现状 可靠性保证 关键技术 

学科分类：07[理学] 070104[070104] 0701[理学-数学类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-5468.2020.05.002

馆 藏 号：203987110...