基于PLC控制的最小二乘法的平面度测量系统设计

作     者：滕斌 石安 李天龙 Teng Bin;Shi An;Li Tianlong

作者机构：成都宏明双新科技股份有限公司四川成都610091 

出 版 物：《自动化应用》 (Automation Application)

年 卷 期：2020年第10期

页      码：11-13页

摘      要：利用最小二乘法原理设计基于PLC控制的平面度测量系统。该测量系统完全基于PLC进行控制和运算,能实时在线检测工件平面度,分辨合格与不合格品,且在测量时无须接触工件,实现快速、高效的自动化生产。

主 题 词：最小二乘法 PLC控制 平面度测量 系统设计 测量系统 结构设计 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.19769/j.zdhy.2020.10.004

馆 藏 号：203988474...