一种基于ATE的SerDes物理层测试方法

作     者：张凯虹 季伟伟 朱江 ZHANG Kaihong;JI Weiwei;ZHU Jiang

作者机构：中科芯集成电路有限公司江苏无锡214035 

基　　金：大规模集成电路高速串行接口测试方法标准研究(192ZX11012) 

出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期：2020年第20卷第11期

页      码：30-33页

摘      要：串行传输技术特别是串行解串器(SerDes)能提供比并行传输技术更高的带宽,被广泛应用于嵌入式高速传输领域。SerDes物理层的测试需要设备的带宽大于信号速率,测试指标高且测试端口接入会对信号产生影响。大多数厂商采用仪器仪表与评估板来评估待测器件(DUT)的方式效率低下,只适用于产品评估阶段。基于自动测试设备(ATE)与可测性设计(DFT)相结合的方式,采用高速串行接口源同步测试技术、测试通路校准与补偿等技术,对SerDes产品的功能、发送和接收端参数进行全面的测试,实现高速接口的快速准确测试,并可适用于其他同类SerDes芯片测试。

主 题 词：串行解串器 自动测试设备 可测性设计 源同步 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.1111

馆 藏 号：203990681...