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可编程逻辑器件在存储器辐射效应测试系统中的应用

可编程逻辑器件在存储器辐射效应测试系统中的应用

作     者:李永宏 贺朝会 杨海亮 何宝平 LI Yong-hong;HE Chao-hui;YANG Hai-liang;HE Bao-ping

作者机构:西北核技术研究所西安市69信箱13分箱710024 

出 版 物:《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期:2005年第25卷第5期

页      码:559-562页

摘      要:着重论述复杂可编程逻辑器件(CPLD)在电子线路设计中的应用,介绍了开发软件M AX+p luses和可编程逻辑器件的使用。应用可编程逻辑器件EPM 7128SLC 84-15设计存储器辐射效应测试系统中的数据采集卡(ISA卡),实现了原测试系统的功能,减少了分立器件数量,提高了系统可靠性。

主 题 词:CPLD MAX+plusⅡ ISA卡 辐射效应 

学科分类:082704[082704] 08[工学] 0827[工学-食品科学与工程类] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录:

D O I:10.3969/j.issn.0258-0934.2005.05.028

馆 藏 号:203993324...

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