混合技术PCB可测试性设计优化方法

作     者：胡政 温熙森 刘冠军 

作者机构：国防科技大学 

出 版 物：《电子测量技术》 (Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：1999年第22卷第1期

页      码：4-7页

摘      要：文中对既包含JTAG芯片又包含非JTAG芯片的混合技术电路板的设计问题进行了深入的研究,构造了两种优化设计算法。应用这两种算法设计的电路,不仅可以满足应用JTAG机制对所有芯片进行测试的要求——可测试必要条件,而且具备最低的整体费用。文中给出了具体的算法,并用实例对算法进行了说明。

主 题 词：可测试性设计 混合技术 系统优化 PCB 电子电路 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.19651/j.cnki.emt.1999.01.002

馆 藏 号：203994950...