辐射效应对模拟电路可靠性的影响分析

作     者：王义元 赵志明 柳征勇 

作者机构：上海宇航系统工程研究所上海201109 

出 版 物：《质量与可靠性》 (Quality and Reliability)

年 卷 期：2013年第6期

页      码：7-10,19页

摘      要：分析了空间辐射环境对模拟电路形成的典型辐射效应,总结了各种效应的损伤模式及其影响因素,讨论了其对电路系统可靠性的影响,并提出在空间环境下提高模拟电路可靠性的应用设计方法,供设计人员参考。

主 题 词：模拟电路 辐射效应 损伤分析 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203996634...