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基于STM32的纸张破漏检测系统研究
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《电子测量技术》2020年 第18期43卷 141-145页
作者：刘浩捷 杨海马 李筠 谌佳宁 何江 丁毅凡 张大伟上海理工大学光电信息与计算机与工程学院上海200093 上海理工大学中德国际学院上海200093 
提高造纸行业的生产质量和生产效率,实时准确地检测原料纸的漏洞和破损,对于纸张生产企业十分重要。纸张破漏检测系统以STM32作为主控制器,采集纸张生产中的参数信息,由光敏电阻和LM393组成线阵传感器,检测纸张生产过程中出现的破漏缺...
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